電源電圧が仕様範囲内でもTLC NANDフラッシュの寿命は大きく変わる
(2016/5/6)
(2015/5/7)
(2015/4/28)
PCにユーザーの顔認識機能を載せて品質の評価や最適化などに利用
(2015/4/24)
(2015/4/23)
(2013/4/25)
最先端プロセッサの信頼性技術をIBMとBroadcomが公表
(2013/4/23)
【前日レポート】FinFET(トライゲート)の信頼性データが続出
(2013/4/17)
【IRPS 2012レポート】
次世代シリコンの3次元実装技術「TSV」(2012/5/9)
【IRPS 2012レポート】
複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー(2012/4/27)
【IRPS 2012レポート】
ばらつきがもたらす「CMOS微細化の終焉」(2012/4/20)
【IRPS 2011レポート】
PCの使用条件からCPUの寿命を予測する(2011/4/27)
【IRPS 2011レポート】
NANDフラッシュメモリの基本動作と不良モード(2011/4/21)
【IRPS 2010レポート】
ジェット推進研究所、宇宙探査機の不良発生データを公表(2010/5/11)
【IRPS 2010レポート】
次世代不揮発性メモリの信頼性をチェック(2010/5/6)
(2009/5/15)
(2009/5/11)
(2009/5/7)
(2009/5/1)
(2009/4/30)
【IRPS 2009前日レポート】
45nm世代の半導体が不良との闘いを振り返る(2009/4/28)