【IRPS 2012レポート】
次世代シリコンの3次元実装技術「TSV」

(2012/5/9)

【IRPS 2012レポート】
複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー

(2012/4/27)

【IRPS 2012レポート】
ばらつきがもたらす「CMOS微細化の終焉」

(2012/4/20)

【IRPS 2011レポート】
中性子線がボードのCPUやメモリなどを誤動作させる仕組み

(2011/5/5)

【IRPS 2011レポート】
PCの使用条件からCPUの寿命を予測する

(2011/4/27)

【IRPS 2011レポート】
NANDフラッシュメモリの基本動作と不良モード

(2011/4/21)

【IRPS 2010レポート】
MLC大容量NANDフラッシュと超低電力SRAMのソフトエラー

(2010/5/18)

【IRPS 2010レポート】
ジェット推進研究所、宇宙探査機の不良発生データを公表

(2010/5/11)

【IRPS 2010レポート】
TIとRamtron、1.5Vの低い電圧で動く強誘電体メモリを共同で開発

(2010/5/10)

【IRPS 2010レポート】
Intelなどが大規模ロジックのソフトエラー対策を公表

(2010/5/7)

【IRPS 2010レポート】
次世代不揮発性メモリの信頼性をチェック

(2010/5/6)