AEC-Q100の試験内容と結果。試験項目は上からHTOL(高温動作寿命)、Endurance(書き換えサイクル)、HTDR(高温データ保持期間)、LTDR(低温データ保持期間)、HTOL、uHAST(バイアスなし高度加速ストレス)、TC(温度サイクル)。全てに合格した。IMW2021でSamsungが発表した論文から
