JEDEC、宇宙での陽子線効果対策テストの規格を策定

　米国の半導体標準化団体のJEDECは16日(現地時間)、宇宙空間における電子端末に対する陽子線シングルイベント効果を検証するための標準規格「JESD234」を公開した。

　半導体チップは、放射線の影響でソフトエラーを起こすことが知られているが、大気圏外では宇宙線と呼ばれる高エネルギーの放射線の影響が甚大であるため、地上とは異なる対策が必要となってくる。

　これまで、宇宙で利用する電子端末に向けた、宇宙線の大部分を占める陽子に起因する問題に関する標準規格は存在しなかったが、今回JEDECでは、飛行計画、試験中の決断、被爆後の計画と分析などを含む、対陽子線検証規格を定め、無償で公開した。