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IBMの講演(2A.1)ダイジェスト。IRPSの公式Webサイトで公表された資料から
福田昭のセミコン業界最前線
次世代半導体の信頼性を支える技術がIRPS 2023に集結
2023年3月27日
半導体の「再現しない不良(NTF)」を高い効率で取り除く手法
2020年5月22日
半導体メーカーのテストをすり抜ける「潜在不良」
2020年5月14日
物理解析なしにDRAMの不良モードと要因を推定するツールなどがIRPS 2024に登場
2024年4月13日
