試作した16BMシリコンダイのデータ書き換え特性(右)と高温放置特性(150℃でのベーキング、リセット(HRS)状態で放置)(左)。1万回の書き換えを繰り返しても、劣化はほんのわずかに過ぎない。またベーキングでは、120時間を経過しても劣化がまったく見られない。STMicroelectronicsが2018年12月に国際学会IEDMで講演したスライドから

試作した16BMシリコンダイのデータ書き換え特性(右)と高温放置特性(150℃でのベーキング、リセット(HRS)状態で放置)(左)。1万回の書き換えを繰り返しても、劣化はほんのわずかに過ぎない。またベーキングでは、120時間を経過しても劣化がまったく見られない。STMicroelectronicsが2018年12月に国際学会IEDMで講演したスライドから