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米TDK、2GB容量の3倍密度CD-R/RW規格

10月30日(現地時間) 発表


 米TDKは30日(現地時間)、米Calimetricsと技術協力し、Calimetricsのもつ「MultiLevel Recording(ML)」技術を応用した3倍密CD-R/RW規格を発表した。容量約2GB、記録スピードも36倍速と従来メディアの3倍になる。TDKでは2001年中に、ML対応ドライブ、メディアの出荷を予定している。

 TDK ElectronicsのKuni Matsui社長は「ML対応ドライブでは、従来のCD-R/RWとの下位互換性を確保している。また、ML技術はICベースのため、MLドライブは従来のCD-R/RWドライブからのコストアップはわずか。ハードウェアメーカーは、既存の光学系や機構、製造インフラを変更することなくMLドライブを製造できる。MLフォーマットは次世代の低コストな記録可能DVDまでの橋渡しなると考えている」とリリース中で述べている。

 また、三菱化学がML対応CD-R/RWメディアで、シナノケンシ(プレクスター)が、ML対応ドライブで協力するとしており、11月にラスベガスで開催されるCOMDEXで、TDKとCalimetricsによる技術デモンストレーションが行なわれる。

□米TDKのホームページ(英文)
http://www.tdk.com/
□ニュースリリース(英文)
http://www.tdk.com/corp/tucpress/alliance.htm
□米Calimetricsのホームページ(英文)
http://www.calimetrics.com/
□関連記事
【7月5日】ソニー、1.3GBの倍密度CD-ROM/R/RW規格「DDCD」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/article/20000705/sony2.htm

(2000年10月31日)

[Reported by usuda@impress.co.jp]

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