第1世代と第2世代のFinFETプロセスで試作したCPUコアの性能。縦軸は動作電圧、横軸はリーク電流。QualcommがVLSIシンポジウムで発表した論文から(番号T6-2)

第1世代と第2世代のFinFETプロセスで試作したCPUコアの性能。縦軸は動作電圧、横軸はリーク電流。QualcommがVLSIシンポジウムで発表した論文から(番号T6-2)