試作したクロスポイント用メモリセル。左は走査型電子顕微鏡による観察像。中央は透過型電子顕微鏡によるセル断面の観察像、右はHAADF(High-Angle Annular Dark Field)法と電子顕微鏡によるセル断面の観察像。IMW 2019の論文集から
