過渡不良や間欠不良の脅威。AMDが解説するデータセンターの信頼性と最新対策(12/14)

高エネルギーの中性子がプロセッサに過渡不良(Transient Failure)を引き起こす。論理回路を保護する対策が採られる。IRPSキーノート講演のスライドから(講演番号KN4)