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半導体メーカーによる不良解析のフロー例(不再現の定義)
福田昭のセミコン業界最前線
半導体メーカーのテストをすり抜ける「潜在不良」
2020年5月14日
「再現しない不良」をあらかじめ取り除く
2015年4月28日
自動車用マイコンの「不良ゼロ」を目指す
2013年4月25日
次世代半導体の信頼性を支える技術がIRPS 2023に集結
2023年3月27日
新品と再生品ICの見分け方など、最新の信頼性技術がIRPS 2024に続出
2024年4月12日
物理解析なしにDRAMの不良モードと要因を推定するツールなどがIRPS 2024に登場
2024年4月13日
