「相変化メモリは熱に弱い」という常識を覆す高耐熱PCM技術(3/8)

試作した記憶素子の断面を電子顕微鏡で観察した像。ヒーター(下部の黒い柱)の真上が半球状のアモルファス層で覆われている。IMW 2019の論文集から