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周辺回路の電源電圧(縦軸)とメモリセルの電源電圧(横軸)に対するシュム―プロット。緑色の部分がパス(正常動作)、赤色の部分がエラー(動作不良)を意味する。VLSI技術シンポジウムの論文集から
連載福田昭のセミコン業界最前線
IntelとSamsungが7nmロジック量産への適用を目指すEUV露光技術
2017年3月17日
次世代モバイルを実現する7nmのSRAM技術をTSMCとSamsungが公表
2017年2月16日
連載後藤弘茂のWeekly海外ニュース
7nmプロセス前倒しへと加速するTSMCのプロセスロードマップ
2016年11月28日
後藤弘茂のWeekly海外ニュース
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2017年7月28日