試作チップの冗長回路と不良救済の仕組み。冗長回路はカラム(列)のメモリセルアレイと周辺回路。左から2列目のカラムで周辺回路(センスアンプ)に不良が見付かった場合。予備の周辺回路(右端の列)を使うとともに、メモリセルアレイと周辺回路の対応関係を1つずつ右にずらすことで、不良を救済している。ISSCCの講演スライドから引用した
