書き換えサイクル寿命の測定結果。左はリセット動作後とセット動作後の抵抗値。左はリセット電圧とセット電圧の推移。いずれも10の12乗回(1兆回)まで、目立った劣化は見られない。なお10の12乗回で測定を中止したのは劣化のためではなく、測定時間が膨大な長さに達したために打ち切ったという ※中央大学とNanteroの共著論文『IEEE Transactions on Electron Devices(vol.6, no.9), Sept 2015』から

書き換えサイクル寿命の測定結果。左はリセット動作後とセット動作後の抵抗値。左はリセット電圧とセット電圧の推移。いずれも10の12乗回(1兆回)まで、目立った劣化は見られない。なお10の12乗回で測定を中止したのは劣化のためではなく、測定時間が膨大な長さに達したために打ち切ったという ※中央大学とNanteroの共著論文『IEEE Transactions on Electron Devices(vol.6, no.9), Sept 2015』から