ハギワラ、寿命予測の診断書を発行可能なUSBメモリ

「寿命診断USBメモリー」

　ハギワラソリューションズ株式会社は、NANDフラッシュの障害、寿命を予測できるUSBメモリ「寿命診断USBメモリー」を8月1日に発売する。組み込み/産業機器分野で利用されるシステムが主な対象。価格はオープンプライス。

　半導体ストレージであるNANDフラッシュには、買い換え回数の制限(=寿命)が存在するが、USBメモリにフラッシュの寿命を診断する機能を内蔵。同社が提供する「寿命診断サービス」に申し込むことで、書き換え寿命診断を行ない、使用可能期間を診断書として発行する。これにより、寿命や障害が発生する可能性が高い時期を予測し、製品を交換すべき時期を事前に検討できるようになる。

　製品は1/2/4/8GBをラインナップするSLCモデルと、2/4/8/16/32GBをラインナップするMLCモデルを用意。いずれも国内生産で、ロットによる部品の違いがない完全固定仕様となっている。