データ書き込み後の経過時間によるビット不良発生率の変化。「R-metric」(従来の手法)に比べて、「eM-metric」(今回の手法)では不良発生率が2桁近く、減少している。といっても不良率の絶対値そのものはあまり低くないことに、注意されたい。IMW2016の講演論文から引用した
