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パラメータの分布。緑色の曲線は異常値を検出したウェハ、赤色の曲線は顧客から不良として戻ってきたウェハ、黒色の曲線はそのほかのウェハである。曲線の分布が大きく異なることが分かる
最先端プロセッサの信頼性技術をIBMとBroadcomが公表
2013年4月23日
【IRPS 2012レポート】ばらつきがもたらす「CMOS微細化の終焉」
2012年4月20日
福田昭のセミコン業界最前線
半導体メーカーのテストをすり抜ける「潜在不良」
2020年5月14日