最先端プロセッサの信頼性技術をIBMとBroadcomが公表(4/8)

経時劣化の様子。横軸は時間(日数)、縦軸は劣化の度合い(リング発振周波数の低下率)である。2台のシステム(System1とSystem2)で実測した結果