シリコンダイ上に、BTI(Bias Temperature Instability)劣化をモニターする回路を配置した。「NBTI」(Negative BTI)を白文字で記述してある。各CPUコアに1カ所、2次キャッシュに1カ所の合計5カ所にモニター回路を埋め込んだ
