【nano tech 2013レポート】 レアメタル・レアアースの削減技術に注目が集まる(48/98)

ナノコンタクト部のcAFM(電導性原子間力顕微鏡)とTEM(透過型電子顕微鏡)による観察。左の図で、鋭いピークが出ている部分がコンタクト部である