IntelによるMRAMキャッシュの検討結果。MRAMセルの熱安定性を検討した結果である。左のグラフはキャッシュラインに不良が発生する確率と熱安定性(kTの倍数:kはボルツマン定数、Tは絶対温度)の関連、右のグラフは10年のデータ保持期間を達成するために必要な熱安定性(kTの倍数)と誤り訂正回路(ECC)の関連。グラフの下のテキストでは、キャッシュでは要求する寿命(データ保持期間)が短く、データ書き換えを高速化する余地があることを指摘している
