SRAMのメモリセルアレイにおける中性子線ソフトエラーの発生マップ(シミュレーション結果)。130nm技術によるSRAMでは100×100bitの範囲に影響が出ていたのが、22nm技術によるSRAMだと影響範囲が1,000×1,000bitに広がっている
