【IEDM 2010レポート】 2xnm世代の高密度大容量を実現したNANDフラッシュ技術
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透過型電子顕微鏡(TEM)によるメモリセルの断面観察像
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http://pc.watch.impress.co.jp/docs/2007/1213/iedm04.htm
