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フォトマスクの保護フィルムであるペリクル付きEUVリソグラフィ向けフォトマスク
大日本印刷、3nm相当のEUV露光向けフォトマスク製造プロセスを開発
2023年12月12日
大日本印刷、2nm以降の半導体フォトマスクに要求されるパターンの解像に成功
2024年12月12日