オンダイECC機能の搭載による不良ビット(1bit誤り)の救済。左のグラフは微細加工技術の世代とリフレッシュのタイミング、不良ビットの関係。微細化によって不良ビットが一気に増大する。右の図面はオンダイECCの概念図。誤り訂正用データ(パリティビット)と誤り訂正回路が載る。いずれもシリコンダイ面積の増加を招く。IntelのJohn Halbert氏が2017年6月にJEDECのイベント「Server Forum」で講演したときのスライドから
