左のグラフはデータ保持期間の測定結果。推定では、55℃で100年を超える保持期間を得られる。右のグラフはデータ書き換えサイクルの測定結果。10の11乗サイクルという、かなり良好な値を得た。なお不良発生のモードは高抵抗側の短絡不良だった
