重イオン粒子ビームに対するソフトエラー発生率の違い。青色のプロットは従来のフリップフロップ、赤色のプロットはソフトエラー対策済みのフリップフロップ。縦軸はフリップフロップ当たりの衝突断面積(ソフトエラーの起こりやすさ)、横軸は「LET(線エネルギー付与)」で、粒子がシリコン中を進行するときにシリコンに与えるエネルギーの大きさ(単位長および単位密度当たり)。IRPS 2016の講演論文から引用した
