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顔認識によってログインする実験を実施した時のさまざまな条件。条件を変更してログイン状況を調べた。IRPS2015の講演論文から引用した
Intelが振り返るMOSトランジスタの技術革新
2015年4月23日
「再現しない不良」をあらかじめ取り除く
2015年4月28日
スマートフォンの「熱さ」がプロセッサの動作電圧を制限
2015年5月7日