自動車用マイコンの「不良ゼロ」を目指す(5/5)

90nm世代の半導体チップにおける不良率の経時変化。実際に不良要因が見つかった半導体チップ(図中の「FIT(trouble found)」とある青色のプロット)は全体の半分に留まる