前の画像
この写真の記事へ
次の画像
トランジスタのスイッチング速度とリーク電流の関係。22nm世代ではスマートフォンからサーバーまでの幅広い領域をカバーする
IntelのCPU「Haswell」向けDRAM技術
2013年6月18日