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部分空乏型SOI
Intel、第4世代Coreプロセッサの省電力機能を説明
2013年5月22日
【前日レポート】FinFET(トライゲート)の信頼性データが続出
2013年4月17日
IBM、2020年代の半導体製造は単原子層レベルの超精密制御へ
2013年2月8日
