【IRPS 2010レポート】 MLC大容量NANDフラッシュと超低電力SRAMのソフトエラー
(5/10)
前の画像
この写真の記事へ
次の画像
L3を書き込まれたメモリセルのしきい電圧が中性子線照射によって変化する様子
前の画像
この写真の記事へ
次の画像