理研、「1,000兆分の1秒」単位で電子ビームのパルス幅を測定できる手法を開発(2/3)

図3 X線強度干渉法および高周波デフレクターで測定された電子ビームの時間プロファイル。青線はX線強度干渉法で得られた電子ビームの電流値の時間プロファイル、緑線は高周波デフレクターによる時間プロファイル