フリースケール、中部圏の自動車向け技術拠点を強化
5月19日 発表 フリースケール・セミコンダクタ・ジャパン株式会社は19日、名古屋市内で記者説明会を開催し、中部圏における自動車分野向け技術拠点の強化策を発表した。新しい世代のアナログ半導体に対応した検査装置と、マイコンの不良解析用検証設備を導入するとともに、世界標準に準拠したマイコンシステムの開発を支援する。 フリースケールは自動車分野に非常に力を入れており、2005年3月には外国系半導体ベンダーとして初めて、自動車用半導体の信頼性品質保証を担当する拠点「名古屋品質・テストセンター」を愛知県安城市に設立していた。出荷先(顧客)で自動車用半導体に不具合が生じたときに、解析を迅速に進めるためである。具体的には、不具合が生じた半導体チップを受け取ってから「2時間以内」にテスターによる解析結果を顧客に報告し、「2日以内」に生産工場における製造ロットの状況を報告し、「2週間以内」に不具合の発生原因を報告する、「2-2-2」と呼ぶ体制の構築を目指した。 「名古屋品質・テストセンター」を設立した効果はきわめて大きく、2005年~2008年の間に中部圏におけるフリースケールの自動車用半導体の売上高は3倍に拡大したという。事業規模の急激な拡大によって顧客サポート体制を強化する必要が生じ、今回の拡張決定へと至った。
「名古屋品質・テストセンター」の拡張内容は大きく2つある。まず、新しい世代のアナログデジタル(ミックスドシグナル)半導体プロセスに対応したテスターを導入する。従来は1Kゲートと小規模なロジックを混載したミックスドシグナル半導体用のテスターしかなかったが、今回は100Kゲートと大規模なロジックを混載したミックスドシグナル半導体に対応したテスターを設置する。 2つ目として、マイクロコントローラ(マイコン)の不良解析を目的とした検証設備を設ける。不良解析専用のボードを用意した。不具合が生じたマイコンをこのボードにソケット経由で装着し、ソフトウエアを動かすことで不具合の再現を試みる。恒温槽を使用して不具合が発生した温度環境を再現することもできる。従来は仙台の設計拠点でこの工程を実施していた。顧客の工場に近い名古屋地区で不良解析の初期工程を実施することにより、顧客に解析状況を報告するまでの期間を短縮できる。
さらに、世界標準に準拠した車載用マイコンシステムの開発を支援する拠点「オートモーティブ・コンピタンス・センター」を5月19日付けで開設した。デュアルコアのマイコンを活用し、機能安全の国際規格「IEC-61508」に準拠したマイコンシステムのリファレンス設計を開発する。また車載マイコン用ソフトウエアの標準規格策定団体「AUTOSAR(AUTomotive Open System ARchitecture)」が定めた技術仕様に準拠したソフトウエアの実装と評価、検証を実施する。いずれもシャーシ制御用とエアバッグ制御用のシステムを想定した。 □フリースケール・セミコンダクタ・ジャパンのホームページ (2008年5月20日) [Reported by 福田昭]
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