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HGST、SSDで世界最速となる300万IOPSを記録

~相変化メモリ採用

 株式会社HGSTジャパンは5日、現行製品を遙かに上回るランダムアクセス性能を実現するPCI Express SSDのプロトタイプを開発し、米国で8月6日~7日に開催される「2014 Flash Memory Summit」にてデモを行なうと発表した。

 現行のSSDは、記録素子にNANDフラッシュメモリを採用しているが、今回開発されたのは1Gbitの相変化メモリ(PCM:Phase Change Memory)を搭載。512byteのランダムリード(Queued環境)で300万IOPS、ランダムリードレイテンシ(Non-Queued環境)で1.5μsを達成しており、特に後者についてはNANDフラッシュメモリでは到達不可能なレベルとしている。

 今回同社は、このメモリ技術をサーバーやアプリケーションに広く展開するため、メモリ性能を最適化する低レイテンシのインターフェイスアーキテクチャを開発するとともに、45nmプロセスのコントローラと1Gbit PCMチップを統合し、フルレングスのPCI Express Gen2 x4 SSDカードを制作した。

(若杉 紀彦)