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NANDフラッシュメモリの不良測定に使用した治具。IRPS2016の講演論文から引用した
【IRPS 2011レポート】NANDフラッシュメモリの基本動作と不良モード
2011年4月21日
連載福田昭のセミコン業界最前線
NANDフラッシュメモリの信頼性を保つ技術
2010年9月2日