より再現性の高い試験を行なうため、内部でアンテナを立てるのではなく、写真のコネクタを基板に直に接続して減衰試験を行なうこともできる。また、理想環境でのスループットの計測にも利用できる

より再現性の高い試験を行なうため、内部でアンテナを立てるのではなく、写真のコネクタを基板に直に接続して減衰試験を行なうこともできる。また、理想環境でのスループットの計測にも利用できる