第1回半導体デバイスの放射線照射効果研究会レポート
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非イオン化エネルギー損失(NIEL)
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http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20110804_464984.html
【2011年7月29日】【NSREC 2011レポート】プロセッサやロジックなどを放射線に強くする
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【2011年5月5日】【IRPS 2011レポート】中性子線がボードのCPUやメモリなどを誤動作させる仕組み
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【2010年5月7日】【IRPS 2010レポート】Intelなどが大規模ロジックのソフトエラー対策を公表
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【2009年5月1日】【IRPS 2009レポート】ソフトエラー編
～ソフトエラー対策が常識となる最先端チップ開発
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