第1回半導体デバイスの放射線照射効果研究会レポート
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荷電粒子の物質内進行によるLETの変化と粒子数の変化
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【2011年7月29日】【NSREC 2011レポート】プロセッサやロジックなどを放射線に強くする
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【2011年5月5日】【IRPS 2011レポート】中性子線がボードのCPUやメモリなどを誤動作させる仕組み
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【2010年5月7日】【IRPS 2010レポート】Intelなどが大規模ロジックのソフトエラー対策を公表
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【2009年5月1日】【IRPS 2009レポート】ソフトエラー編
～ソフトエラー対策が常識となる最先端チップ開発
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