不良が発生し始める総ドーズ量(縦軸)と、ドーズ率(横軸)の関係。Texas Instruments(TI)の電圧レギュレータIC「TL750L05CDR」の例(提供：NASAのD. Chen氏)

不良が発生し始める総ドーズ量(縦軸)と、ドーズ率(横軸)の関係。Texas Instruments(TI)の電圧レギュレータIC「TL750L05CDR」の例(提供：NASAのD. Chen氏)