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NANDフラッシュとNORフラッシュのメモリ・セルにおけるしきい電圧(VT)の違い。いずれもシングルレベルセル(SLC)の場合
早稲田大学、「半導体LSIの高速化限界は流れる電子の数によって決定される」
2012年12月10日