【IRPS 2011レポート】 NANDフラッシュメモリの基本動作と不良モード(2/21)

浮遊ゲート(フローティング・ゲート)型セル・トランジスタの構造。制御ゲート(コントロール・ゲート)、浮遊ゲート、ソース、ドレインで構成される