【IRPS 2010レポート】 次世代不揮発性メモリの信頼性をチェック
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試作したテスト素子の構造。PCMセルと白金(Pt)抵抗ヒーターを重ねてある
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【2010年2月10日】【ISSCC 2010レポート】次世代不揮発性メモリの開発が大きく進展
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20100210_348212.html