【IRPS 2010レポート】 次世代不揮発性メモリの信頼性をチェック(4/6)

データ記憶素子への書き込みに熱を使うため、隣のデータ記憶素子も暖められてしまう。この結果、データの値が変化する怖れがある（TD：Thermal Disturbance）