金沢大学、シリコンに代わる高性能を秘めた「反転層型ダイヤMOSFET」を動作実証(1/2)

反転層チャネルダイヤモンドMOSFET(左上)とその中の一素子を光学顕微鏡で拡大した画像(右上)、赤い破線部の断面模式図(下)