【IRPS 2012レポート】 複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー(3/9)

ASTEPで測定した中性子線のカウント数(左縦軸、青色の曲線)と気圧(右縦軸、灰色の曲線)の関係。気圧が低くなると、中性子線のカウント数(照射量)が増える傾向にあることがわかる