ラムバス記者発表会レポート(14/15)

【写真14】こちらでは概略のみだが、今年(2010年)のDesignCon 2010ではもう少し詳細な情報が公開されている。こちらによればテストシリコンのコントローラはTSMCの40nm LPプロセスで製造され、C2CとPoPの両方のパッケージで良好なアイダイアグラムを記録している。DesignConでのプレゼンテーションでは、同様のパッケージをLPDDR2を使っても行ない、アイダイアグラムがずっと乱れていることも示された