試作チップの冗長回路と不良救済の仕組み。冗長回路はカラム(列)のメモリセルアレイと周辺回路で、それぞれを独立に割り当てられる。前述の回路でセンスアンプ不良が検出されて周辺回路を冗長回路と置き換えた後に、左から3列目のメモリセルアレイで不良が見付かった場合。予備のメモリセルアレイ(右端の列)を使うとともに、メモリセルアレイと周辺回路の対応関係を組み換え(黄色の折れ線)ることで、不良を救済している。ISSCCの講演スライドから引用した
