5枚の4Gbit STT-MRAMシリコンダイについて10通りのファイナルテストを実施し、不良ビットを数えた。1bitの誤り訂正回路を通過させた後の結果である。IEDM 2016の論文資料から引用した

5枚の4Gbit STT-MRAMシリコンダイについて10通りのファイナルテストを実施し、不良ビットを数えた。1bitの誤り訂正回路を通過させた後の結果である。IEDM 2016の論文資料から引用した